1.采用X-Y Moving Table 進行自動測試、直接插入PCB板進行光電特性測試、可測量參數可選擇及客制化。
2.適用于LED\LD\VCSEL芯片、封裝的老化壽命測試。
規則參數
測量參數: 可選或其他客制化規格
選 配: 積分球大小、側發光測試、量測單位、量測電壓范圍
專用常溫燒測系統 [LTS]
專用高溫燒測系統 [OHT-L…
專用恒溫恒濕燒測系統 [TH-…
專用冷熱沖擊燒測系統 [TS-…
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